Caractérisation non destructive des propriétés des matériaux. La diffraction des rayons X de Bruker permet une analyse détaillée de tout matériau, de la recherche fondamentale au contrôle de qualité industriel, offrant aujourd’hui des solutions d’avenir à nos clients. Les applications de ces techniques qualitatives et quantitatives comprennent:
Identification de phase
Analyse quantitative
Détermination de la structure cristalline
Analyse PDF (diffusion totale)
Diffusion de rayons X aux petits angles (SAXS)
Réflectométrie aux rayons X (XRR)
Diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
Cartographie spatiale réciproque (RSM)
Stress résiduel
Texture (figures polaires)